Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
О книге "Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия"
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ.
Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. На нашем сайте вы можете скачать книгу "Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия" Владимир Бублик в формате pdf, читать книгу онлайн или купить книгу в интернет-магазине.
Подборки книг
Похожие книги
Популярные книги жанра «Техническая литература»
Информация обновлена: