Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
О книге "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств"
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства.
Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок. На нашем сайте вы можете скачать книгу "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств" И. О. Атовмян в формате pdf, читать книгу онлайн или купить книгу в интернет-магазине.
Подборки книг
Другие книги автора
Информация обновлена: