Secondary Ion Mass Spectrometry. An Introduction to Principles and Practices

Introduces the accepted fundamentals and pertinent models associated with elemental and molecular sputtering and ion emission • Covers the theory and modes of operation of the instrumentation used in the various forms of SIMS (Static vs Dynamic vs Cluster ion SIMS) • Details how data collection/processing can be carried out, with an emphasis placed on how to recognize and avoid commonly occurring analysis induced distortions • Presented as concisely as believed possible with All sections prepared such that they can be read independently of each other

Произведение относится к жанру Образовательная литература. На нашем сайте можно скачать книгу "Secondary Ion Mass Spectrometry. An Introduction to Principles and Practices" в формате pdf или читать онлайн. Здесь так же можно перед прочтением обратиться к отзывам читателей, уже знакомых с книгой, и узнать их мнение. В интернет-магазине нашего партнера вы можете купить и прочитать книгу в бумажном варианте.